納米粒度儀檢測是采用的動態(tài)光散射的原理，簡單來說是通過測量納米顆粒的布朗運動導致的顆粒散射光的波動來實現(xiàn)粒徑的檢測。基本原理是：小顆粒的布朗運動速度快使得散射光波動快；大顆粒的布朗運動速度慢導致散射光波動慢。  

光電探測器接收到散射光的波動信號，然后將信號輸送到儀器內(nèi)的相關(guān)器進行數(shù)據(jù)處理，然后得到各項測試結(jié)果。  

納米粒度儀的兩大核心技術(shù)是：1、準確檢測并記錄極其微弱且快速變化的動態(tài)散射光信號。  

2、根據(jù)動態(tài)散射光信號，經(jīng)過復雜的數(shù)學模型分析計算后準確的解析出相關(guān)的粒度數(shù)據(jù)。  

目前納米粒度儀主流使用的探測器有兩種：一是PMT光電倍增管，二是雪崩光電探測器APD。PMT光電倍增管它是一種真空光電器件（真空管）。它的工作原理是建立在光電效應（光電發(fā)射）、二次電子發(fā)射、電子光學理論基礎上的。PMT光電倍增管已經(jīng)面世多年，其生產(chǎn)工藝及應用技術(shù)已經(jīng)非常成熟穩(wěn)定，但是已經(jīng)很難再有更上一層樓的技術(shù)進步。它主要的優(yōu)點就是技術(shù)成熟，不足之處在于靈敏度稍低和背景電噪聲不穩(wěn)定。  

雪崩光電探測器APD是利用載流子的雪崩倍增效應來放大光電信號以提高檢測的靈敏度。雪崩光電二極管(APD)具備單光子探測能力，與已經(jīng)廣泛使用的光電倍增管(PMT)相比，APD具有全固態(tài)結(jié)構(gòu)，量子效率高的特點，并可以在高增益下保持良好的信噪比。由于APD是工作在蓋革模式下，單個門控周期得到的是0和1組成的數(shù)字矩陣，對微弱光子信號的長時間積分不會引入熱噪聲，加之其信號的傳輸不需要經(jīng)過模數(shù)和數(shù)模轉(zhuǎn)換減少了隨機噪聲等誤差源。  

當納米粒度儀與電鏡結(jié)果做比較時，有必要認識到兩種儀器的等效原理不同，數(shù)據(jù)不具備*的可比性。一般而言NumberPSD的值與電鏡結(jié)果的可比性比較強，但我們也需要注意到NumberPSD分布本身就可能有較大的誤差。尤其對于分布比較寬的樣品，用動態(tài)光散射測量時IntensityPSD本身就有變化，這會造成VolumePSD，NumberPSD的重復性很差。  

納米粒度儀用動態(tài)光散射的原理測量納米材料的粒徑，具有準確、簡便、快速等優(yōu)點，同時提供了豐富的結(jié)果信息。充分了解這些結(jié)果的含義對于正確使用有重要的意義。一般而言，對于單峰的樣品，通常用Z-average來報道樣品結(jié)果；而多峰分布的樣品，則要注意根據(jù)“質(zhì)量報告”提示，有時提供IntensityPSD中的峰值大小更有意義。VolumePSD，NumberPSD的準確性依賴于用戶輸入的光學參數(shù)，在多數(shù)情況下僅供參考。另外，為保障數(shù)據(jù)可靠性，我們通常還要求對一個樣品進行多次取樣、多次測試，以確保結(jié)果的可靠性。