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X射線熒光光譜儀原理、用途及主要優(yōu)勢

更新時(shí)間:2015-04-02       點(diǎn)擊次數(shù):3342
 一、X射線熒光光譜儀原理
 
    X射線熒光光譜儀是通過一種波長較短的電磁輻射(X射線)。當(dāng)用X射線光管發(fā)出高能電子照射樣品時(shí),入射電子被樣品中的電子減速,會產(chǎn)生寬帶連續(xù)X射線譜。如果入射光束為X射線,樣品中的元素內(nèi)層電子受其激發(fā),可產(chǎn)生特征X射線,一般稱為X熒光射線(XRF).通過SDD探測器收集到分析樣品中不同元素產(chǎn)生的熒光X射線波長和強(qiáng)度,可獲得樣品中的元素組成與含量信息,達(dá)到定性和定量分析的目的。
 
二、X射線熒光光譜儀用途
 
1、鋼鐵行業(yè):對生鐵、各類鑄鐵、各類合金鋼及爐渣、礦石、燒結(jié)礦、球團(tuán)礦、鐵精粉、
 
鐵礦石除碳(C)以外的各種元素成份分析。
 
2、耐火材料及水泥行業(yè)的分析:各類耐火材料及水泥生料樣品的成份分析。
 
3、有色行業(yè):對鋁合金、不銹鋼、銅合金樣品及鉛鋅礦、銅礦、銀礦、鉬礦等各種成份
 
分析。
 
4、質(zhì)檢部門:ROSH指令中的Pb,Cd,Cr,Hg,Br及氯素各種等成份分析。
 
5、鍍層測厚:可對金屬材料及非金屬材料上的所有電鍍層的厚度進(jìn)行準(zhǔn)確無損測量。
 
三、x射線熒光光譜儀主要優(yōu)勢
 
1、:測試結(jié)果可以接近濕化學(xué)方法測試;
 
2、快速:分析樣品中的幾十個(gè)元素只需幾分鐘;
 
3、無損:不會破壞被分析樣品的物理和化學(xué)特性;
 
4、直觀:分析結(jié)果以圖表方式直接呈現(xiàn);
 
5、環(huán)保:不會對環(huán)境產(chǎn)生污染破壞。