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單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀原理及優(yōu)缺點(diǎn)概述

更新時(shí)間:2015-05-12       點(diǎn)擊次數(shù):3433

一、單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀原理:

    用全聚焦型雙曲面彎晶將微焦斑X線管(可看作點(diǎn)光源)發(fā)射的原級(jí)X射線的某個(gè)波長(zhǎng)(通常選取出射譜中的特征X射線)的X射線單色化并聚焦于樣品測(cè)試表面,激發(fā)樣品中元素的熒光X射線。由于入射到樣品的X射線具有很好的單色性,幾乎不存在連續(xù)譜,因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線(線光譜)和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外,幾乎不存在連續(xù)散射背景。因此待測(cè)元素特征線具有極低的背景。樣品上出射的X射線(可視作點(diǎn)光源)中待測(cè)元素的特征熒光X譜線經(jīng)全聚焦型雙曲面彎晶衍射,得到具有極低背景的特征X射線,并聚焦到探測(cè)器上進(jìn)行探測(cè),由特征X射線強(qiáng)度進(jìn)行元素含量的定量分析。

二、單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn):

    由于采用單波長(zhǎng)激發(fā)并按波長(zhǎng)色散原理進(jìn)行待測(cè)元素的特征熒光X射線檢測(cè),極低的背景帶來(lái)極低的檢出限,將X射線熒光光譜分析的領(lǐng)域由微量(ppm級(jí))延伸到痕量(亞ppm到ppb級(jí))。結(jié)合X射線熒光光譜分析的快速、無(wú)損的優(yōu)點(diǎn),單波長(zhǎng)激發(fā)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀在諸如食品安全、水質(zhì)監(jiān)測(cè)等常規(guī)XRF無(wú)法涉足的領(lǐng)域必將得到廣泛的應(yīng)用。

三、單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀缺點(diǎn):

    全聚焦型雙曲面彎晶制作工藝極其復(fù)雜,成品率低,成本較高。