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馬爾文帕納科XRD系列講座—— 如何獲得高質(zhì)量粉末衍射數(shù)據(jù)?| 薄膜XRD表征 | X射線散射技術(shù)的結(jié)構(gòu)分析

更新時(shí)間:2020-05-29      點(diǎn)擊次數(shù):2552

X-射線衍射技術(shù)是材料表征的重要手段。隨著材料研究的快速發(fā)展而產(chǎn)生的越來(lái)越多的表征要求和XRD技術(shù)的不斷進(jìn)步,XRD分析的領(lǐng)域也得到了許多擴(kuò)展。材料科學(xué)工作者可以使用XRD表征與材料晶體結(jié)構(gòu)相關(guān)的一系列性質(zhì),為材料研究提供大量的信息。為使馬爾文帕納科XRD用戶更好的了解XRD技術(shù)的多領(lǐng)域發(fā)展和有效的使用現(xiàn)有的XRD儀器進(jìn)行材料表征研究。特此舉辦系列XRD技術(shù)發(fā)展網(wǎng)絡(luò)講座,邀請(qǐng)公司XRD應(yīng)用專家陳京一老師進(jìn)行宣講,陳老師將結(jié)合其近四十年寶貴的XRD工作經(jīng)驗(yàn)為您介紹XRD在多個(gè)材料表征領(lǐng)域中的應(yīng)用,趕快報(bào)名參加吧!

 

62日 14:00-15:30 高質(zhì)量粉末衍射數(shù)據(jù)的獲得和相變過(guò)程的原位表征

物相分析是粉末X-射線衍射廣泛和基礎(chǔ)的應(yīng)用。獲得高質(zhì)量的粉末衍射數(shù)據(jù)是得到準(zhǔn)確物相鑒定和定量分析的重要的因素。同時(shí)進(jìn)行結(jié)構(gòu)精修和從粉末衍射數(shù)據(jù)進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)解析也依賴于粉末衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量。本次講座將介紹從光學(xué)結(jié)構(gòu)的改進(jìn)等方面來(lái)獲得高質(zhì)量粉末衍射數(shù)據(jù)的方法。同時(shí),還將介紹使用變溫,變壓等附件研究相變過(guò)程的動(dòng)態(tài)原位表征方法。

 

64 14:00-15:30  多晶,非晶薄膜的XRD表征

薄膜(涂層)技術(shù)是新材料發(fā)展的一個(gè)重要領(lǐng)域。而XRD是這一類材料表征的重要手段。使用XRD我們除了可以測(cè)量薄膜的物相外,還可以測(cè)量薄膜的多個(gè)其它性質(zhì)(如厚度,界面等)從而表征薄膜的質(zhì)量。本次講座的內(nèi)容為使用XRD進(jìn)行薄膜(涂層)分析的各種技術(shù)及其應(yīng)用。

 

6月11日 14:00-15:30 X射線散射技術(shù)的結(jié)構(gòu)分析

隨著新材料研究的深入,對(duì)其結(jié)構(gòu)表征的需求也在不斷的發(fā)展,例如納米結(jié)構(gòu)的表征,非晶態(tài)的研究,材料中原子間作用的變化都是研究者感興趣的領(lǐng)域。而上述的研究經(jīng)常需要前往同步輻射中心和線站進(jìn)行。本次講座將介紹使用您現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)室XRD并配有一定的附件就可以進(jìn)行這些領(lǐng)域的研究。

 

講師介紹

 

陳京一先生,馬爾文帕納科XRD應(yīng)用專家,中國(guó)科技大學(xué)學(xué)士,中國(guó)科學(xué)院上海冶金研究所(現(xiàn)微系統(tǒng)研究所)碩士,一直從事XRD方法研究和應(yīng)用支持工作,具有40XRD分析及應(yīng)用研究行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。

 

 

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