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納米顆粒跟蹤分析儀的結(jié)構(gòu)主要包括以下幾個(gè)部分

更新時(shí)間:2023-09-08      點(diǎn)擊次數(shù):613
  納米顆粒跟蹤分析儀是一種能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)納米顆粒動(dòng)態(tài)行為的儀器。該技術(shù)被廣泛應(yīng)用于納米材料研究、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。原理是利用激光束照射樣品,觀察樣品中納米顆粒的布朗運(yùn)動(dòng),并通過圖像處理技術(shù)對(duì)顆粒的位置進(jìn)行跟蹤。通過采集大量顆粒的位置信息,可以得到顆粒的大小、濃度、形狀等信息。
  使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預(yù)熱、樣品注入、數(shù)據(jù)采集等步驟。樣品制備的要求較高,需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據(jù)采集后,可通過分析軟件對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,如計(jì)算平均直徑、濃度等參數(shù)。
  納米顆粒跟蹤分析儀的結(jié)構(gòu)主要包括以下幾個(gè)部分:
  1、激光系統(tǒng):使用激光器作為光源。激光器產(chǎn)生一束單色、相干和聚焦的激光光束,用于照射樣品中的納米顆粒。
  2、光學(xué)系統(tǒng):光學(xué)系統(tǒng)用于收集和聚焦激光光束,并將樣品中納米顆粒的散射光信號(hào)轉(zhuǎn)換為圖像。光學(xué)系統(tǒng)通常包括物鏡、透鏡、濾光片和光學(xué)檢測(cè)器等組件。
  3、樣品室:樣品室是放置待測(cè)樣品的區(qū)域。通常使用熒光顯微鏡或倒置顯微鏡作為樣品室的基礎(chǔ)。樣品室內(nèi)設(shè)置有透明的玻璃或石英窗口,以便觀察樣品中納米顆粒的運(yùn)動(dòng)。
  4、CCD相機(jī):CCD相機(jī)用于捕捉樣品中納米顆粒的運(yùn)動(dòng)圖像。它將樣品中的散射光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),并通過數(shù)碼轉(zhuǎn)換器將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像。CCD相機(jī)通常與計(jì)算機(jī)連接,以便進(jìn)行圖像采集和處理。
  5、圖像處理和分析系統(tǒng):圖像處理和分析系統(tǒng)用于處理和分析采集到的納米顆粒圖像。它可以識(shí)別和跟蹤納米顆粒的運(yùn)動(dòng)軌跡,并計(jì)算納米顆粒的尺寸、濃度和運(yùn)動(dòng)速度等參數(shù)。圖像處理和分析系統(tǒng)通常由計(jì)算機(jī)軟件實(shí)現(xiàn)。
  6、控制系統(tǒng):控制系統(tǒng)用于控制納米顆粒跟蹤分析儀的運(yùn)行。它包括控制面板、電子控制器和電源等組件??刂葡到y(tǒng)可以調(diào)節(jié)激光光源的功率和聚焦位置,控制圖像采集頻率和曝光時(shí)間,以及管理圖像處理和分析過程。

納米顆粒跟蹤分析儀