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X射線衍射儀是一種基于X射線與物質(zhì)相互作用的儀器，通過衍射現(xiàn)象揭示物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)和晶體學(xué)信息。它廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、晶體學(xué)、結(jié)構(gòu)分析和固體物理學(xué)等領(lǐng)域。其原理基于X射線與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)X射線通過晶體或非晶體材料時，會發(fā)生衍射現(xiàn)象，即X射線的波動性導(dǎo)致它們在材料中被散射和干涉。X射線衍射儀利用探測器記錄衍射X射線的強(qiáng)度和角度信息，并通過衍射圖樣的分析，推斷出物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)和晶體學(xué)參數(shù)。X射線衍射儀的主要應(yīng)用范圍：1、材料表征和分析：可用于對材料的結(jié)構(gòu)、相組成和晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行表...

熒光光譜儀是一種用于測量物質(zhì)熒光光譜的儀器，它可以通過激發(fā)物質(zhì)并測量其發(fā)出的熒光光來獲取有關(guān)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)和環(huán)境的信息。，其工作原理基于物質(zhì)的熒光現(xiàn)象。當(dāng)物質(zhì)受到激發(fā)能量（如光、電子束等）時，部分能量被吸收并使電子躍遷到激發(fā)態(tài)。隨后，電子從激發(fā)態(tài)返回基態(tài)時會發(fā)出熒光光子。熒光光譜儀通過收集并分析這些發(fā)出的熒光光子，可以推斷物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。熒光光譜儀的主要用處：1、分析物質(zhì)成分：可以用于分析物質(zhì)的成分和組成。不同的物質(zhì)在受激發(fā)后會發(fā)出特定的熒光光譜，這些光譜可以提供物質(zhì)的指...

X射線熒光光譜儀的優(yōu)點主要包括：分析速度快，可在短時間內(nèi)完成多個元素的測定。樣品非破壞性，不會改變樣品的化學(xué)狀態(tài)，可對同一樣品進(jìn)行多次測量。分析精度高，可實現(xiàn)微量和痕量元素的測定。可同時測量多種元素，特別適合于元素種類較多的樣品分析。測量范圍廣泛，適用于各種類型的樣品。然而，X射線熒光光譜儀也存在一些缺點：對輕元素的靈敏度較低，尤其是氫和氦等輕元素。對于一些高原子序數(shù)的元素，如鈾和钚等，信號可能會被吸收或散射，導(dǎo)致測量困難。對于一些復(fù)雜的樣品，如含有多種元素或化合物的樣品，可...

X射線衍射儀是采用衍射光子探測器和測角儀來記錄衍射線位置及強(qiáng)度的分析儀器，并通過系列技術(shù)的處理能準(zhǔn)確地測量衍射強(qiáng)度和線性。X射線衍射儀主要應(yīng)用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料的結(jié)構(gòu)**應(yīng)力的測定、晶粒大小測定、結(jié)晶度測定等。X射線衍射儀是利用衍射原理，準(zhǔn)確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，準(zhǔn)確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。它主要采集的是地層中各種礦物的相對含量，并系統(tǒng)采集各種礦物的標(biāo)準(zhǔn)圖譜，包括石英、鉀長石、斜長石等近30種礦物成分，通過礦物成分的相對含量就...

X射線衍射儀是利用衍射原理，測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學(xué)、材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。（一）材料科學(xué)研究和發(fā)展材料，這項工作涉及研究各種物質(zhì)的特性和使用，如金屬，陶瓷和塑料，應(yīng)用范圍從空間科學(xué)和國防科技到消費類產(chǎn)品。X射線衍射儀（XRD）是研究材料的主要技術(shù)，包括下列功能：相的識別和定量，相的結(jié)晶度判定，晶體結(jié)構(gòu)，晶體取向和織構(gòu)，極圖等。這些功能的非環(huán)境條件影響也同XRD技術(shù)一起經(jīng)常研究。搜索可針對各...