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進(jìn)口X射線熒光光譜儀分析方法是一個(gè)相對(duì)分析方法，任何制樣過(guò)程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性，所以用于制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品必須經(jīng)過(guò)同樣的制樣處理過(guò)程。X射線熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過(guò)程由于經(jīng)過(guò)多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。進(jìn)口X射線熒光光譜儀測(cè)粉末樣品誤差的來(lái)源：1.粒度效應(yīng)粉末樣品粒度效應(yīng)是指...

特征X射線及其衍射X射線是一種波長(zhǎng)（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線，它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長(zhǎng)，稱為特征X射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線波長(zhǎng)為0.154056nm。X'PertPROMRD/XL高分辯衍射儀是半導(dǎo)體材料的標(biāo)準(zhǔn)裝備，用于：材料科學(xué)和納米技術(shù)，半導(dǎo)體材料研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制，可以適用各種應(yīng)用，尤其適合薄膜分析，例如：搖擺曲線分析和倒易空間Mapping，反射率和薄膜...

以往的粒度分析方法通常采用篩分或沉降法。常用的沉降法存在著檢測(cè)速度慢（尤其對(duì)小粒子）、重復(fù)性差、對(duì)非球型粒子誤差大、不適用于混合物料（即粒子比生必須一致才能較準(zhǔn)備）、動(dòng)態(tài)范圍窄等缺點(diǎn)。激光粒度分析儀采用濕法分散技術(shù),具有操作簡(jiǎn)便、輸出數(shù)據(jù)直觀等優(yōu)點(diǎn)，與傳統(tǒng)儀器比較，提高了時(shí)效和分析精度。那么如何來(lái)判斷激光粒度分析儀的優(yōu)劣呢？主要看以下幾個(gè)方面：1.粒度測(cè)量范圍：粒度范圍寬，適合的應(yīng)用廣。不僅要看儀器所報(bào)出的范圍，而是看超出主檢測(cè)面積的小粒子散射（＜0.5μm）如何檢測(cè)。的途徑...

工業(yè)衍射儀是主要用來(lái)分析x射線的儀器，給我們具體的的實(shí)驗(yàn)和分析數(shù)據(jù)，幫助我們了解物質(zhì)的特性和射線的走向。我們用它主要是分析物質(zhì)成分和元素特性。結(jié)晶度用來(lái)表示聚合物中結(jié)晶區(qū)域所占的比例，聚合物結(jié)晶度變化的范圍很寬，一般從30%～80%。而我們研究物質(zhì)的結(jié)晶度是為了確定物質(zhì)的結(jié)構(gòu)組成和分子排列。結(jié)晶度的測(cè)定及原理：1.X射線衍射法測(cè)結(jié)晶度此法測(cè)得的是總散射強(qiáng)度，它是整個(gè)空間物質(zhì)散射強(qiáng)度之和，只與初級(jí)射線的強(qiáng)度、化學(xué)結(jié)構(gòu)、參加衍射的總電子數(shù)即質(zhì)量多少有關(guān)，而與樣品的序態(tài)無(wú)關(guān)。因此如...

X射線熒光光譜儀應(yīng)用于水泥、鋼鐵、建材、石化、有色、硅酸鹽、煤炭、高嶺土、耐火材料、科研、環(huán)保等行業(yè)，是一種中型、經(jīng)濟(jì)、高性能的光譜儀。采用固定通道，減少測(cè)量時(shí)間；固定通道尤其適用于熒光產(chǎn)額較低的輕元素和微量元素的測(cè)定，以提高分析精度和靈敏度。X熒光光譜儀采用操作方便，用戶習(xí)慣的智能化軟件，提供全自動(dòng)分析操作，實(shí)現(xiàn)快速定性、定量分析和半定量分析。X射線熒光光譜儀一般有三點(diǎn)分析模式：·點(diǎn)分析將電子探針固定在試樣感興趣的點(diǎn)上，進(jìn)行定性或定量分析。該方法用于顯微結(jié)構(gòu)的成份分析，例如...