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X射線熒光光譜儀,尤其是順序式X射線熒光光譜儀,每一個(gè)測(cè)量過程都有許多部件在動(dòng)作,精密度測(cè)試即測(cè)試這些部件的到位精密度。計(jì)量方法:連續(xù)測(cè)量20次,每次測(cè)量都改變機(jī)械設(shè)置條件,包括晶體、計(jì)數(shù)器、準(zhǔn)直器、2Η角度、濾波片、衰減器和樣品轉(zhuǎn)臺(tái)位置等,精密度以相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD表示,要求RSD≤2.0√N(yùn)1/2×100%(N為平均累計(jì)計(jì)數(shù))。波長色散X射線熒光光譜儀在平均累計(jì)計(jì)數(shù)為1910354時(shí)的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差為0.09%,精密度限值為0.14%。在澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)中要求對(duì)每一個(gè)運(yùn)動(dòng)部件分...

以金礦三、四期礦樣的物質(zhì)成分研究進(jìn)行說明X衍射的工作方法和分析步驟,具體如下：1、礦樣特征由于三、四期礦樣均為褐色砂狀礦樣,以氧化物為主,用水析分離后表明三期礦石風(fēng)化程度較大。2、光譜分析對(duì)礦樣的平均樣品進(jìn)行光譜分析,確定礦樣中大致上所含元素種類。光譜分析結(jié)果表明硅、鋁、鎂、鐵含量較高,同時(shí)還有其他元素少量或微量。3、化學(xué)分析對(duì)含量較高的元素進(jìn)行化學(xué)分析,得出元素在礦樣中的具體含量?；瘜W(xué)分析結(jié)果表明礦樣的主要元素為二氧化硅,次要元素為鐵、氧化鋁和氧化鎂。三期礦石含硫較低,其他...

1、X熒光光譜儀核查周期X熒光光譜光譜儀經(jīng)機(jī)構(gòu)檢測(cè)合格后每3個(gè)月進(jìn)行一次期間核查。2、X熒光光譜儀期間核查的類型采用定值物質(zhì)進(jìn)行核查。3、X熒光光譜儀核查內(nèi)容①PE基質(zhì)工作曲線用已有的PE基質(zhì)工作曲線測(cè)定PE基質(zhì)的定值物質(zhì)6次，其定值為：Cr：600ppm、Cd：310ppm、Hg：600ppm、Pb：620ppm、Br：590ppm，計(jì)算出其平均值和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。要求各個(gè)元素的平均值落在定值的95-105%之間，相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差必須小于10%。②PVC基質(zhì)工作曲線用已有的PVC...

一、進(jìn)口X射線衍射儀制樣中應(yīng)注意的問題1、樣品粉末的粗細(xì)：樣品的粗細(xì)對(duì)衍射峰的強(qiáng)度有很大的影響。要使樣品晶粒的平均粒徑在5μm左右，以保證有足夠的晶粒參與衍射。并避免晶粒粗大、晶體的結(jié)晶完整，亞結(jié)構(gòu)大，或鑲嵌塊相互平行，使其反射能力降低，造成衰減作用，從而影響衍射強(qiáng)度。2、樣品的擇優(yōu)取向：具有片狀或柱狀*解理的樣品物質(zhì)，其粉末一般都呈細(xì)片狀或細(xì)律狀，在制作樣品過程中易于形成擇優(yōu)取向，形成定向排列，從而引起各衍射峰之間的相對(duì)強(qiáng)度發(fā)生明顯變化，有的甚至是成倍地變化。對(duì)于此類物質(zhì)，...

由于產(chǎn)生誤差的原因不同,能量色散型X熒光光譜儀各種誤差具有不同的性質(zhì),顯示出不同的基本特征。通常將誤差分為系統(tǒng)誤差、隨機(jī)誤差與過失誤差三類。(1)系統(tǒng)誤差由于在能量色散型X熒光光譜儀測(cè)定過程中某些固定的原因,造成測(cè)定結(jié)果經(jīng)常性偏高或偏低,出現(xiàn)比較恒定的正誤差或負(fù)誤差,這種誤差稱為系統(tǒng)誤差,或者稱為固定誤差、可測(cè)誤差,它是測(cè)定結(jié)果中的主要誤差來源。系統(tǒng)誤差的特點(diǎn)是,這種誤差在測(cè)定過程中按一定規(guī)律重復(fù)出現(xiàn),并具有一定的方向性,表現(xiàn)為測(cè)定結(jié)果經(jīng)常性偏高或偏低,增加測(cè)定次數(shù)并不能減少...