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淺析在線粒度儀相比傳統(tǒng)離線粒度測(cè)試方法的優(yōu)勢(shì)
發(fā)布時(shí)間:2023-07-27

在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)和優(yōu)化顆粒尺寸分布,廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域。它的高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性使得粒度分析變得更準(zhǔn)確和可靠。它通過光學(xué)或聲學(xué)原理,將物料中的顆粒進(jìn)行非接觸式檢測(cè),并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性的特點(diǎn),可以...

  • 發(fā)布時(shí)間:2019-06-04

    X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好,測(cè)量速度快,靈敏度高的特點(diǎn)。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結(jié)果,結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平,分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析,薄膜分析。測(cè)量樣品的大尺寸要求為直徑51mm,高40mm。X射線熒光光譜儀分析的元素范圍廣,從4Be到92U均可測(cè)定;X射線熒...

  • 發(fā)布時(shí)間:2019-05-28

    zeta電位儀的測(cè)量方法:電泳法對(duì)許多熟悉利用此法進(jìn)行高分子分離的人來說,顆粒電泳也是一個(gè)類似現(xiàn)象。懸浮于介質(zhì)中的顆粒被置于一電場(chǎng)中;如果帶電他們會(huì)在電場(chǎng)產(chǎn)生流動(dòng),陽性顆粒朝負(fù)極流動(dòng),陰性顆粒朝正極流動(dòng)。然而,顆粒并不是獨(dú)自流動(dòng),他們周圍會(huì)攜帶一薄層離子和溶劑。這一分離固定媒介與移動(dòng)顆粒及其攜帶的離子和溶劑的界面叫做流體剪切面,而zeta電位正是這一界面的電位。因此zeta電位可以通過測(cè)量顆粒在已知電場(chǎng)中的流速來測(cè)定。早期的測(cè)量?jī)x器(Rank微電泳儀)通過充滿誤差,慢速度的手...

  • 發(fā)布時(shí)間:2019-05-21

    馬爾文流變儀的分類介紹:旋轉(zhuǎn)流變儀A:控制應(yīng)力型:使用多,如德國(guó)哈克(Haake)RS系列、美國(guó)TA的AR系列、英國(guó)Malven、奧地利Anton-Paar的MCR系列,都是這一類型的流變儀。前三家的產(chǎn)品馬達(dá)采用托杯馬達(dá),托杯馬達(dá)屬于異步交流馬達(dá),慣量小,特別適合于低粘度的樣品測(cè)試;Anton-Paar的MCR流變儀和美國(guó)TA公司的ARES采用永磁體直流馬達(dá),但從原理上響應(yīng)速度快,是應(yīng)力型流變儀的一種發(fā)展方向。這一類型的流變儀,采用馬達(dá)帶動(dòng)夾具給樣品施加應(yīng)力,同時(shí)用光學(xué)解碼器...

  • 發(fā)布時(shí)間:2019-05-06

    x射線熒光光譜儀是利用初級(jí)X射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級(jí)X射線)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。按激發(fā)、色散和探測(cè)方法的不同,分為X射線光譜法(波長(zhǎng)色散)和X射線能譜法(能量色散)。x射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測(cè)、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級(jí)X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大,用水和油同時(shí)冷卻。色散單元的作用是分出想要波長(zhǎng)的X射線。它由樣品室、狹縫、測(cè)角儀、分析晶體等部分組成。通過測(cè)角器以1∶...

  • 發(fā)布時(shí)間:2019-05-05

    高分辨率X射線衍射(HRXRD)是一系列應(yīng)用技術(shù),用于對(duì)大多數(shù)幾乎的分層結(jié)晶結(jié)構(gòu)材料進(jìn)行無損分析。能夠揭示和量化結(jié)構(gòu)參數(shù),對(duì)于成功應(yīng)用這些材料是至關(guān)重要的。目前,大多數(shù)現(xiàn)代半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)是在由硅、硅鍺、III-V和II-VI化合物制成的基體上氣相外延生長(zhǎng)而成的。這些薄膜是幾乎的晶體薄膜,具有相對(duì)較低的位錯(cuò)密度。薄膜性能很大程度上取決于它們的成份和結(jié)構(gòu)參數(shù)。通過使用高分辨率X射線光學(xué)系統(tǒng)測(cè)量搖擺曲線和倒易空間圖來獲得諸如層厚度、成份、應(yīng)力、張馳度和結(jié)構(gòu)質(zhì)量的信息。通過X射線衍射...

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