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X射線衍射儀的原理：x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是1912年德國(guó)物理學(xué)家勞厄(M.vonLaue)提出的一個(gè)重要科學(xué)預(yù)見(jiàn)，隨即被實(shí)驗(yàn)所證實(shí)。1913年，英國(guó)物理學(xué)家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)...

Zeta電位儀是由新型的光學(xué)系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成，實(shí)現(xiàn)了由PC個(gè)人微機(jī)對(duì)采樣模塊的控制及后期數(shù)據(jù)處理的一體化設(shè)計(jì)，與其它同類產(chǎn)品相比，它具有更多的優(yōu)異性能。Zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位)，也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。通過(guò)測(cè)定粉體的Zeta電位，從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，...

Empyrean銳影X射線衍射系統(tǒng)是荷蘭帕納科公司繼X’Pert專家系統(tǒng)后，十年一劍，推出的全新X射線衍射儀，可滿足當(dāng)前4大類X-射線分析要求的平臺(tái)，即衍射、散射、反射和CT影像X射線分析平臺(tái)，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。它擁有新開(kāi)發(fā)的X光管，的測(cè)角儀、*的新樣品臺(tái)和嚴(yán)格的輻射安全防護(hù)。衍射平臺(tái)上的三維探測(cè)系統(tǒng)，PIXcel3D探測(cè)器將使用于這一多功能的X-射線衍射系統(tǒng)上，將面探測(cè)技術(shù)與CT技術(shù)平民化。使用EmpyreanX射線衍射和混合像素探測(cè)器PIXcel3...

EmpyreanNano版多功能X射線散射平臺(tái)是一種混合實(shí)驗(yàn)室X射線散射儀。這款*的設(shè)備支持多種技術(shù)，以多種長(zhǎng)度比例進(jìn)行（納米）材料的結(jié)構(gòu)鑒定。與市場(chǎng)上的其它實(shí)驗(yàn)室儀器不同，EmpyreanNano版涵蓋了從sub-?ngstr?ms到微米級(jí)的布拉格間距，以及跨越幾乎50年的散射矢量q范圍——沒(méi)有任何間隙。主要應(yīng)用：1、SAXS（小角X射線散射）SAXS是分析各種樣品類型（液體、粉末、固體、凝膠...）的納米級(jí)結(jié)構(gòu)和尺寸的通用工具之一。樣品可以是無(wú)定形、結(jié)晶或半結(jié)晶。通過(guò)SA...

X射線熒光(XRF)光譜測(cè)定是一種無(wú)損式分析技術(shù)，可用于獲取不同類型材料的元素信息。它已在許多行業(yè)和應(yīng)用領(lǐng)域中得到廣泛運(yùn)用，包括：水泥生產(chǎn)、玻璃生產(chǎn)、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、石油和石化、聚合物及相關(guān)行業(yè)、制藥、保健產(chǎn)品和環(huán)保。光譜儀系統(tǒng)通常分為兩大類：波長(zhǎng)色散式系統(tǒng)(WDXRF)和能量色散式系統(tǒng)(EDXRF)。兩者之間的區(qū)別在于檢測(cè)系統(tǒng)。在波長(zhǎng)色散式光譜儀中，X射線光管用作直接照射樣品的光源，并且使用波長(zhǎng)色散式檢測(cè)系統(tǒng)來(lái)測(cè)量樣品發(fā)出的熒光。分光晶體根據(jù)波長(zhǎng)（而不是能量）來(lái)...