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納米顆粒跟蹤分析儀是一種能夠實時監(jiān)測納米顆粒動態(tài)行為的儀器。該技術被廣泛應用于納米材料研究、生物醫(yī)學、環(huán)境科學等領域。原理是利用激光束照射樣品，觀察樣品中納米顆粒的布朗運動，并通過圖像處理技術對顆粒的位置進行跟蹤。通過采集大量顆粒的位置信息，可以得到顆粒的大小、濃度、形狀等信息。使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預熱、樣品注入、數(shù)據采集等步驟。樣品制備的要求較高，需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據采集后，可通過分析軟件對數(shù)據進行處理，如計算平均直徑...

X射線熒光光譜儀是一種重要的分析儀器，廣泛應用于材料科學、地質學、環(huán)境監(jiān)測等領域。其原理基于物質在受激輻射下產生特定能量的熒光現(xiàn)象。當樣品暴露于高能X射線束時，內部原子被激發(fā)并躍遷到較高能級。隨后，這些原子會釋放出X射線能量，并以特定的頻率進行熒光發(fā)射。光譜儀通過收集和分析這些發(fā)射的X射線能量，可以確定樣品中元素的成分和濃度。X射線熒光光譜儀具有許多優(yōu)勢。首先，它是非破壞性的分析方法，樣品在測試過程中不需要毀壞或改變其形態(tài)。這使得可以對寶貴的或難以獲取的樣品進行準確的分析。其...

X射線熒光光譜儀是一種常用的分析儀器，利用X射線的特性，通過測量樣品中發(fā)射的熒光X射線能譜，分析樣品的元素成分和結構信息。基于X射線的特性進行分析。當X射線照射樣品時，樣品中的原子會吸收X射線的能量，激發(fā)內層電子躍遷至高能級，形成空位。隨后，樣品中的其他電子會填補這些空位，釋放出熒光X射線。X射線熒光光譜儀通過測量這些熒光X射線的能譜，可以確定樣品中的元素成分和結構信息。以下是對X射線熒光光譜儀的優(yōu)點進行分析：1、非破壞性分析：是一種非破壞性分析方法，不需要對樣品進行物理或化...

新品優(yōu)惠來啦！馬爾文帕納科生命科學類儀器，購買差式掃描熒光儀SUPR-DSF，贈送Zetasizer納米粒度電位儀！購買分子互作或穩(wěn)定性分析儀器套裝，享最高優(yōu)惠200萬元！更多優(yōu)惠，掃描下方二維碼了解詳情！關于MalvernPanalytical馬爾文帕納科由英國馬爾文儀器（Malvern）和荷蘭帕納科（PANalytical）合并而成，屬于思百吉集團的主要平臺公司，是材料表征領域的專家及多項創(chuàng)新技術的發(fā)明者。公司擁有在業(yè)內享有盛名的顆粒表征、分子結構、微量熱和X射線分析技術...

納米粒度電位儀是一種用于測量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒的表面電位是指顆粒表面帶電的程度，是影響顆粒穩(wěn)定性和相互作用的重要因素。納米粒度電位儀通過測量顆粒在電場中的運動速度和方向，來計算顆粒表面電位的大小和符號，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和相互作用機制?；陔妱恿W原理進行測量。當納米顆粒懸浮在液體中時，其表面帶有電荷。通過測量納米顆粒在電場中的運動速度來推斷其尺寸。較大的顆粒由于慣性效應而具有較快的運動速度，而較小的顆粒由于受到溶劑分子的碰撞而具有較慢的運動速度。通過分析納米...